镀层测厚仪使用性能；


1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍； 
2. 高 ：本公司产品简单校0后即可达到1-2%是目前市场上能达到A级的产品,其远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品也高； 
　　3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品； 
　　4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法 覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。 采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

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